七大材料結構分析方法七——探針和掃描顯微分析

　　所謂探針，就是探測固體表面信息的針。探針射向或接近固體表面某微區，所激發的某些物理信號攜帶該微區的結構信息。

　　常用儀器：電子探針X射線顯微分析儀（EPA），俄歇電子能譜（AES），X射線光電子能譜儀（XPS），掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡，飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）等

　　應用實例：

　　拉伸斷口掃描電子顯微鏡分析

拉伸斷口掃描電子顯微鏡圖

　　圖a是環氧樹脂經過放大100倍后的照片，由圖片可以看出，破壞的斷口表面呈片狀層疊，對其放大到2 000倍后見圖b可以觀察每個片狀層又比較光滑，測試觀察到在破壞環氧樹脂前出現頸縮所以判斷此種斷口為韌性破壞狀態。圖c是不飽和聚酯樹脂經過放大100倍的照片，圖片顯示的斷面與環氧樹脂斷面完全不同，對其放大到2 000倍后見圖d斷面出現了大量紋路根據力學性能的結果分析此種斷口破壞應為脆性破壞。