中科院上海硅酸鹽研究所——透射電鏡分析

一、JEM-2100F場發射透射電子顯微鏡

　　儀器參數： 

　　超高分辨極靴 (UHR) 

　　點分辨率：0.19nm；線分辨率：0.14nm 

　　STEM (HAADF)分辨率：0.20nm 

　　最小束斑：0.2nm 

　　樣品桿最大傾斜角 (X、Y):  ±25° 

　　Oxford能譜儀 (EDS)　　　　能量分辨率：~130eV (MnK線)

　　　　　　　　　　　　　　　元素范圍：⁵B ~ ⁹²U 

　　設備功能： 

　　主要用于無機材料微觀結構與組成的分析和研究，儀器的功能包括： 

　　電子衍射：選區衍射、微束衍射、會聚束衍射 

　　成像：衍襯像（明、暗場像）、高分辨像 (HREM)、掃描透射像 (明場像、環狀暗場像) 

　　微區成分：EDS能譜的點、線和面分析 

　　原位表征：溫場下的結構演變 (加熱樣品桿附件：室溫~1000°C) 

　　應用范圍 

　　材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料 

　　表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布 

　　　　　　　晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成 

　　　　　　　結構相變原位研究

　　聯系方式：

　　聯系人：張琳琳

　　地址：上海市定西路1295號3號樓105室

　　電話：021-52413104

　　郵件：linzi5933@mail.sic.ac.cn

二、JEM-1400 120kV透射電子顯微鏡

　　儀器參數:

　　加速電壓：60~120kV可調

　　點分辨率：0.38nm；線分辨率：0.20nm

　　樣品最大傾斜角：?25?

　　Oxford能譜儀 (EDS)：80mm2探頭；5B~92U；能量分辨率：127eV (Mn K?線)

　　三維重構：樣品桿最大傾角?70?；三維重構軟件包

　　設備功能:

　　主要用于無機、有機和生物材料的形貌和組成分析，儀器的功能包括：

　　電子衍射、形貌像、組成的EDS能譜分析、形貌的三維重構

　　應用范圍:

　　材料范圍：除強磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；有機和生物材料

　　表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、化學組成、三維重構等

　　聯系方式：

　　聯系人：姚鶴良

　　地址：上海市定西路1295號3號樓104室

　　電話：021-52413104

　　郵件：hlyao@mail.sic.ac.cn

三、FEI Tecnai G2 F20場發射透射電子顯微鏡

　　儀器參數：

　　加速電壓：200kV

　　高分辨極靴 (S-TWIN)

　　點分辨率：0.24nm；線分辨率：0.14nm

　　STEM (HAADF)分辨率：0.19nm

　　電子束能量色散：<0.7eV

　　最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA

　　樣品最大傾斜角：?40?

　　EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV

　　EDAX能譜儀 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn K?線)

　　設備功能：

　　主要用于無機材料微結構與微區組成的分析和研究，儀器的功能包括：

　　電子衍射：選區衍射、微束衍射、會聚束衍射

　　成像：衍襯像（明、暗場像）、高分辨像 (HREM)、掃描透射像（明場像、環狀暗場像、Z-襯度像）

　　微區成分：EELS和EDS能譜的點、線和面分析

　　應用范圍：

　　材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料

　　表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、元素價態和化學鍵、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等

　　聯系方式：

　　聯系人：張琳琳

　　地址：上海市定西路1295號3號樓105室

　　電話：021-52413104

　　郵件：linzi5933@mail.sic.ac.cn