TEM = Transmission Electron Microscope 透射電子顯微鏡，簡稱：透射電鏡。
透射電鏡是研究材料的重要儀器之一，在納米技術的基礎研究及開發應用中也不例外。但是用透射電鏡研究材料微觀結構時，試樣必須是透射電鏡電子束可以穿透的納米厚度的薄膜。單體的納米顆粒或納米纖維一般是透射電鏡電子束可以直接穿透的。研究者通常把試樣直接放在微柵上進行透射電鏡觀察。但是由于納米顆粒或納米纖維容易團聚，因此，用這種方法常常得不到理想的結果，有些研究內容也難以實施。比如∶納米顆粒的表面改性的研究，納米纖維的橫切面研究都比較困難，研究界面問題則有更大的難度。因此，納米材料的透射電鏡研究，其樣品制備問題是一個值得探討的重要課題。對此，方克明教授進行了研究，探索了一種比較適用的制樣方法。該方法可以從納米顆粒或微米顆粒中直接切取可以進行透射電鏡研究的薄膜，對進行納米纖維橫切面觀察或納米界面觀察的制樣也有很高的效率。
這一技術的特點是從納米或微米尺度的試樣中直接切取可供透射電鏡或高分辨電鏡研究的薄膜。試樣可以為簡單顆粒或表面改性后的包覆顆粒，對于纖維狀試樣，既可以切取橫切面薄膜也可以切取縱切面薄膜。對含有界面的試樣或納米多層膜，該技術可以制備研究界面結構的透射電鏡試樣。技術的另一重要特點是不損傷試樣的原始組織。制膜過程中不使用高溫，不接觸酸堿，必要時也可以不接觸水或水溶液。