俄歇電子能譜分析是通過檢測試樣表面受電子或X射線激發后射出的俄歇電子的能量分布來進行表面分析的方法，寫作AES。是電子能譜分析技術之一。其原理是：用具有一定能量的電子束或X射線激發試樣，使表面原子內層能級產生空穴，原子外層電子向內層躍遷過程中釋放的能量又使該原子核外的另一電子受激成為自由電子，該電子稱為俄歇電子，其能量與激發源能量無關并帶有特征性。用能量分析器(常用靜電型）檢測這些電子的能量分布，得到以其動能為橫坐標，電子計數率（或一階導數）為縱坐標的俄歇電子能譜圖。它可以檢測除氫和氦以外的所有元素，更適于輕元素的定性定量分析；根據譜峰位置與峰形可推測表面原子的種類和化學狀態；探測深度小于2nm。若入射電子束沿試樣表面掃描可進行二維表面元素分析；結合離子濺射剝蝕，可研究試樣沿深度方向的成分變化，獲得三維的元素分布信息。
一、項目編號：招案2022-1675（地大編號：DDCG-20221054）二、項目名稱：中國地質大學企業信息（武漢）原位X射線光電子能譜分析系統采購項目三、中標信息供應商名稱：廣東省中科進出口有限公......
電子能譜分析法是指采用單色光源（如X射線、紫外光）或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發而發射出來，然后測量這些電子的產額（強度）對其能量的分布，從中獲得有關信息。特點1)除氫和氦元素之外，可以分析......
俄歇電子能譜法(AES)是一種了解固體原子層面特性的方法,這一方法對開發許多最先進的電子設備至關重要,已經成功應用于從氣相化學到納米結構特性的廣泛領域。 ......
本論文介紹了作者在攻讀碩士學位期間的研究工作,主要包括:俄歇電子能譜儀的設計和研制情況;用電子能量損失譜方法對氬原子的內殼層2p激發進行研究,結合Cowancode的計算,得到了各個躍遷的能級和自然寬......
掃描電鏡利用精細聚焦電子束照射在樣品表面,該電子束可以是靜止或在樣品表面作光柵掃描。在這個過程中,電子束與樣品相互作用產生各種信號,其中包括二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線和不同能量的光子等......
PHI的700Xi掃描俄歇電子能譜儀(AES)提供高性能的掃描俄歇電子(AES)頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設備。維持基于PHI CMA的核心......
新一代的俄歇電子能譜儀多采用場發射電子槍,其優點是空間分辨率高,束流密度大,缺點是價格貴,維護復雜,對真空要求高。除H和He外,所有原子受激發后都可產生俄歇電子,通過俄歇電子能譜不但能測量樣品表面的元......
俄歇電子能譜儀的基本原理是,在高能電子束與固體樣品相互作用時,原子內殼層電子因電離激發而留下一個空位,較外層電子會向這一能級躍遷,原子在釋放能量過程中,可以發射一個具有特征能量的X射線光子,也可以將這......
近年來,俄歇電子能譜儀(AES)在材料表面化學成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微區分析方面嶄露頭角。AES的優點是,在距表面0.5～2nm范圍內,靈敏度高、分析速度快,能探測周期......
大多數元素在50~1000eV能量范圍內都有產額較高的俄歇電子，它們的有效激發體積（空間分辨率）取決于入射電子束的束斑直徑和俄歇電子的發射深度。能夠保持特征能量（沒有能量損失）而逸出表面的俄歇電子，發......