偏振光顯微鏡（Polarized Optial Microscope，簡稱POM）是用于研究各向異性材料的一種顯微鏡。它主要是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向性）或雙折射性（各向異性）。凡具有雙折射性的物質，在偏光微鏡下都能分辨的清楚。
