其原因主要有兩個方面

其原因主要有兩個方面:

一方面是由于配備微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不是很多；另一方面，許多材料科學工作者還沒有意識到微分干涉相襯法在材料研究中的優勢

一、微分干涉相襯法的基本原理：

1、微分干涉相襯法所需部件：起偏器、檢偏器、微分干涉相襯組件插板(DIK組件插板)，以及補色器(λ- 片)。起偏器和檢偏器是在對金相樣品進行正交偏振光觀察中必不可少的基本配套部件，組裝在明/暗場照明組件中，也是微分干涉相襯法必不可少的部件。起偏器是把光源變為按東- 西方向振動的線偏振光；檢偏器可以使滿足干涉條件的相干光進行干涉。DIK組件插板是微分干涉相襯法的核心部件，其上裝配有以渥拉斯頓棱鏡為基礎改良后的DIC棱鏡。DIK組件插板上有兩個調節旋鈕，其中較大的一個用來調節組成DIC棱鏡的兩個棱鏡間的相對位置，使其厚度產生微小的改變從而引起光程或光程差的微小變化，產生明顯的干涉相襯效果；較小的一個用來調節DIC棱鏡的高低位置，以配合不同倍數物鏡后焦平面位置上的差異，從而確保DIC觀察視場中能獲得均勻的照明。補色器(λ- 片) 由石膏制成，插在線偏振光的照光路中用以增加一個光波波長約550nm的光程差，使干涉級序升高一級，保證視野中樣品的不同組織細節獲得豐富的色彩，從而利于金相組織的觀察和分析。

2、微分干涉相襯的基本原理：微分干涉相襯法的基本原理如圖1所示。由光源出射的照明光經起偏器后變為東-西方向振動的線偏振光，*次進入DIC棱鏡內部時分為尋常光(o光)和非尋常光(e光)，這兩束光微微分開，而其振動方向相互垂直