如今，很多研究人員會通過使用冠層多譜輻射計測定不同春性冬小麥品種于不同時期倒伏的群體冠層光譜反射率，分析不同倒伏條件下的小麥冠層光譜特點，從而建立有效監測小麥倒伏嚴重程度的數學模型，為科學判定作物倒伏程度提供了依據。對此，有人專門做了實驗，結果如下：
通過冠層多譜輻射計測定結果分析，小麥倒伏后冠層光譜反射率會增加，可見光波段550納米附近出現一個波峰，670納米附近出現一個波谷；近紅外波段1000納米處出現一個較明顯的波動，呈現兩個波谷，一個波峰。同一倒伏級別下，倒伏時期不同，光譜反射率曲線存在差異，可見光波段乳熟末期冠層反射率高于開花期光譜反射率，而近紅外波段恰好相反；在同一倒伏時期，倒伏級別越高，光譜反射率就越大。倒伏級別與冠層光譜反射率的相關系數于760納米處達最。這與NDVI、RVI、DVI相比，采用760納米處冠層光譜反射率和DVI可有效評估春性冬小麥倒伏嚴重度，開花期350～700nm和1420～1520nm冠層光譜反射率和灌漿期350～1750納米冠層光譜反射率分別與干物質積累量顯著相關。同時，我們可利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用于量化各種脅迫導致的春性冬小麥冠層發射率差異。400-900納米的可見/近紅外波段對探測和評估春性冬小麥葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用于估計春性冬小麥的生理參數與生物化學成份等信息。
由此可見，冠層多譜輻射計不但可以通過測定春性冬小麥光譜反射率，從而判斷它的倒伏級別，而且還可以評估春性冬小麥葉片病害的程度，以此利用科學手段不斷提高小麥的產量與品質。