通盤而論，兩大部類，〔1〕核心測試構造：承襲于傳統的測試技術，檢測技術，自動的實施信號處理（電子信號測量）。針對不同的DUT的測試提案不同，核心測試構造也會有所不同。〔2〕計算機控制構造：處理的速度和能力，取決于當時的計算機能力。計算機技術事實上已經變成了通用技術了，對于一套ATE來說，高指標的計算機不見得是最好的計算機，滿足系統的需要，協調才是最好的標準。事實上，復雜的ATE設備的價格，相對于先進的高指標的服務器價格來說，相當于巨人根侏儒的嬰兒的關系了。 總體上來說，計算機技術的作用，控制系統的協調，控制信號的注入路徑，控制數據的采集和處理，等等。換句話說，計算機對系統的硬件，軟件的管理是雙管齊下的---既當爹，又當媽，吃喝拉撒都要管。所以，通用計算機已經不太適合了，于是，歷史上便產生了FA計算機技術。但是，這還是滿足不了，高速，大量的要求，于是，專家們干脆打破了計算機的傳統結構，甚至，制造出了專用的CPU，專用的ChipSet。這一切不過是在反復的印證一個簡單的道理，是生產的需要牽引著技術的進步。
當今，ATE廣泛地應用于半導體工藝流程的若干工序環節。在不遠的將來，會瞄準量子機械（MEMS-Micro Electronic Mechanic System）的廣大領域。激勵和回讀信號的種類的外延也會從以目前的電量為主，飛躍性的擴充到光學參量，流體（包括氣體和液體）參量，位移參量等等能夠在裝置內部演算的各種參量，可以是量子化了的參數，或者就是自然變量的本身（模擬參量）。