原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）基本原理：將一個隊微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個微小的針尖，其尖端原子與樣品表面原子間存在及極微弱的排斥力，利用光學檢測法或隧道電流檢測法，通過測量針尖與樣品表面原子間的作用力獲得樣品表面形貌的三維信息。可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。如果想要挑選原子力顯微鏡，可以考慮Park原子力顯微鏡的Park X20。
原子力顯微鏡是顯微鏡中的一種類型，應用范圍十分廣泛。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。原子力顯微鏡(AFM)能夠在大氣及液體環境下準確地觀測樣品表面微區(納米及微米尺度)三維形貌；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，能測試多種材料如纖維材料、膜材料、生物材料、地質有機質、高分子材料等非金屬材料以及金屬材料、復合材料的多種物性。包括表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力和其他相互作用力的測量。
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