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  • 發布時間:2022-01-26 10:16 原文鏈接: 去焦技術的應用和用途

    去焦技術主要用于正置的雙聚熱磁質譜儀中,且用來測定離子源至靜電場這無場區域的亞穩離子。靜電場是以能量的大小來區分離子,亞穩離子的速度為v1,質最為m2,顯然其能量是低于穩定離子的能量eV (V為加速電壓)。

    亞穩離子的能量應為(m2/m1)eV,若要讓該亞穩離子通過靜電場,則必須提髙加速電壓的值,使它達到(m1/m2)eV,這一過程對于穩定離子來說是去聚焦,而對于亞穩離子來說就是聚焦。去焦技術的實驗過程是這樣的,將磁場調節在接收m2的位置,然后在磁場不變的情況下升高加速電壓,由此獲得一張能形成m2離子的所有母離子。圖為正十烷樣品形成子離子m/z41的所有母離子,它們分別為m/z69、m/z67、m/z57、m/z56、m/z43以及 m/z42。

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