在此以X射線透射衰減規律為基礎,設計出基于DSP的X射線能譜數據采集系統。重點介紹用于能譜數據采集的硬件電路和軟件設計,其中,硬件電路主要由前置放大、濾波、主放大、峰值保持電路組成,軟件主要由TMS320F2812對經過預處理后的脈沖信號進行多道脈沖幅度分析操作,并最終繪制出X射線能譜圖。本系統具有電路設計簡單,采樣精度高,抗干擾能力強等特點。
質譜儀器的主要控制系統包括電源控制、同步與時序控制、數據采集三大部分，三大部分的整合則是通過控制軟件來達成，本文不再詳述。下面主要介紹一些常見術語和一些特殊的方法。1、質譜圖質譜圖的X軸代表質荷比，Y......
智能少不了傳感器傳感器是數據采集的源頭，它無處不在。智能最前端所需要的態勢感知，基本都是要從傳感器開始。無論是智能制造、智慧城市、智慧醫療等，還是智能設備和大數據分析，再龐大的智能系統，都要從傳感器的......
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀......
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，......
本文提出一個直接利用薄膜和襯底的X射線能譜來同時測定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜發出的各元素的標識X射線強度比確定其成分,利用NaCl襯底的Nak_α和Clk_α標識X射線的強度隨膜厚增大而衰減......
本文通過在EM400T透射電鏡上用一些標準成分的樣品進行薄膜無標樣成份分析實驗,檢驗了EDAX9100能譜儀的分析準確度。在本試驗所用的樣品范圍內,其準確度為:近鄰元素同一X光線系分析相對誤差為5～1......
本文利用薄膜對入射電子束流的衰減作用和薄膜對襯底的x射線的吸收,提出了一種直接利用襯底的x射線的強度比來測量薄膜厚度的方法。并在各種實驗條件下,對Cu薄膜的厚度進行了測量,得到了較為滿意的結果。&nb......
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水......
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用......
本文就鋇-稀土氟碳酸鹽礦物的研究提出了一種簡單的X射線能譜定量分析方法,對其可靠性作了檢驗。并指出,此法可能有助于今后發現這個系列礦物的新成員。 ......