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  • 發布時間:2021-12-08 14:16 原文鏈接: 如何測量半導體材料的光致發光譜

    我目前只知道一種儀器,叫TXRF(Total Reflection X-ray Fluorescence)。

    其原理是用X光激發原子層電子逃逸,導致外層電子躍遷釋放出特征X射線,其可以被接收器(EDX)檢測形成能量彌散X射線譜。

    其他的不太清楚,X-ray Fluorescence的儀器用的都是這個原理。

    還有一種光譜叫電子致發光譜,一般都是配合SEM得到的。

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