本法這兩個特點同時也限定了它的應用范圍：
①待測元素必須能夠生成氫化物或揮發性化合物，且生成物的穩定性必須滿足能夠被送入原子化器，而且能在原子化器中原子化；
②采用 ND 檢測方式要求用于檢測的光譜帶必須避開原子化 器（常用Ar-H2火焰原子化器）和日光的背景譜帶，日盲區（190?310nm）正好能夠滿足這一要求，所以 HG/CVG-NDAFS 可測元素必須有落在日盲區內的較強原子熒光譜線。可知 IA、IIA 族元素生成離子型氫化 物，沸點高，無揮發性，生成熱為負值，難分解，所以不能以 HG/CVG-AFS 檢測VIIA族元素雖能生成低沸點的揮發性共價氫化物，但其氫化物生成熱為負值，較為穩定，難以被 Ar-Hz 火焰 原子化，所以也不能以 HG/CVG-AFS 檢測。
IVA、VA、VIA 族較重元素（As、Sb、Bi、Se、Ge、Pb、 Sn、Te）可以生成揮發性的共價氫化物，借助載氣流可以方便地將其導入原子化器或激發光源之中，是測定這些元素的最佳樣品引入方式；且這些氫化物的生成熱為正值，穩定性較差，非常適宜用低溫 Ar-H2 火焰原子化；最后這些元素都有落在日盲區的原子熒 光譜線，所以這些元素非常適于采用 HG/NDAFS 進行定量光譜測 量。除這些元素以外，IIB族的 Zn、Cd、Hg 能直接生成氣態原 子，即所謂的冷蒸氣發生(CVG)，發生出的氣態原子被載氣帶出 并被光源激發，且其原子熒光主譜線也落在日盲范圍內，能采用與 HG/NDAFS 相似的方式檢測，這就是所謂的 CVG/NDAFS。部分元素的原子熒光譜線見下表。
部分元素的原子熒光譜線
元素 | 譜線/nm | 元素 | 譜線/nm |
Ge | 265.1 | As | 193. 7 |
Sn | 286. 3 | Sb | 217.6 |
Pb | 283. 3 | Bi | 306.8 |
Se | 196. 0 | Cd | 228.8 |
Te | 214. 3 | Hg | 253.7 |
Zn | 213. 9 |
雖然原子吸收光譜法也能測定這些元素，但結果往往不夠理想，其主要原因是空氣對日盲區段光有吸收，特別是 190?200nm的 As、Se 譜線損失更大，因此測量靈敏度較低， 所以 HG/CVG-NDAFS 在測定這些元素方面有其優越性。
HG-NDAFS 和 CVG-NDAFS 除原子化裝置外，對儀器的要求完全相同，可在同一臺儀器上實現，就是所謂的HG/CVG- NDAFS 儀器。ND-AFS 技術相對較為成熟，變化不大，只是在 電路的穩定性和集成度上有些改進。而HG/CVG 系統則借助流 動注射的發展而取得了長足的進步，從間歇(batch mode)發展到連續流動(continuous-flow )、斷續流動(intermittent-flow mode)、流動注射(flow injection)直到最新的順序注射技術 (sequential injection mode)。