布魯克發布基于原子力顯微鏡平臺的掃描電化學顯微鏡

　　分析測試百科網訊 近日，布魯克的納米表面部門發布了Dimension Icon?原子力顯微鏡平臺上的掃描電化學顯微鏡（SECM）。使用獨有的探針設計，布魯克的新PeakForce掃描電化學顯微鏡能夠精確地控制針尖與樣品的相互作用，針對以前難以觀測的氧化還原反應和其中的反應動力學提供納米表面，電化學反應，電學和機械的同步圖像，這種特性能提供納米級的觀測。

　　“我們的客戶過去一直想在Dimension Icon?原子力顯微鏡上使用新的高分辨率納米電極。”布魯克納米表面部門的資深應用科學家，Teddy Huang博士說道。“從今往后我們就能夠捕捉到電化學與納米力學之間的聯系，能夠理解納米材料與材料尺寸、幾何構造、模量系數、附著力和材料活性之間復雜的關系。”

　　“PeakForce掃描電化學顯微鏡從根本上重新定義了溶液中可能發生什么樣的納米級的電學和化學過程。”負責布魯克原子力顯微鏡儀器生意的副主席兼總經理，Marco Tortonese博士補充道。“這種突破性是PeakForce Tapping?技術、儀器內部設計以及制造可靠的探針三方面共同作用的結果。”

　　關于PeakForce掃描電化學顯微鏡

　　PeakForce掃描電化學顯微鏡充分利用了布魯克獨有的PeakForce Tapping@技術，拓展其在復雜樣品中的納米電化學、電學和機械性的圖像性能，從柔軟的生物系統到高分子聚合物。布魯克的PeakForce 掃描電化學顯微鏡探針使用ZL方法批量生產，并且堅持制造高質量的納米電極。優化的導電通路和特殊涂層技術能夠消除針孔，只有微小到可忽略的泄漏與電容電流。PeakForce掃描電化學顯微鏡的圖像處理能力比傳統的處理方式提高了數個數量級，打開了通往納米粒子、納米相，納米孔徑的電化學測量大門。