常用鏡檢法的調置

  隨著近代光學技術的發展以及微電子、計算機技術的融合，賦予光學顯微鏡以新的生命力。在掌握必要的顯微鏡及其各種鏡檢法的理論知識基礎上，進行調試、校準和定期維護，對于保證顯微鏡技術的有效利用和觀測質量尤為重要。對于鏡檢法操作過程中常易疏漏的調制環節我們來作為重點討論一下。

    1 明場（bright field, BF）

    定期進行聚光鏡中心調整，實時進行聚光鏡與物鏡NA的對應數值調設。清潔蓋玻片、載玻片，確保沒有手印、沾染物。使用油鏡時，調焦或移動視野要慢些以維持浸油形成的表面張力保證對焦和孔鏡角穩定，兼做熒光觀察的物鏡統一用無熒光油。

    2 暗場（dark field, DF）

    暗場鏡檢首先是利用暗場聚光鏡的環狀裂隙和凹面鏡制造有序的斜射光，因此必須調整好光軸對中。要清潔物鏡的前透鏡等光學器件和標本片，載玻片不能太厚，否則聚光鏡的焦點落到被檢物體焦面以外。

    3 相差（phase contrast, PH）

    鏡檢前，要用調中鏡（centering escope，CT）逐一檢查物鏡的相板與所對應的聚光鏡相差環是否達到光學共軛，即聚光鏡相差環環狀光闌像的透明圈與物鏡相板共軛面完全吻合，才能達到理想的相差效果。一般情況下，聚光鏡的孔徑光闌應適當開大或設置在標定PH位。切片控制在5～10μm厚度，封片劑要均勻。

    4 DIC相差（differential interference contrast, DIC）

    標本或器皿要潔凈無塵，必須事先調整好起偏鏡、檢偏鏡和DIC棱鏡的設置，用CT鏡檢測出現清晰的干涉條紋。但兼做熒光觀察時，要把DIC器件移出光路，以避免較強的激發光損傷DIC器件的光學鍍膜。塑料器皿選擇Hoffman調制相差（Hoffman modulationcontrast，HMC）。

    5 熒光（fluorescence，FL）

    需遵循說明書熟練掌握熒光光源的燈絲對中方法，當熒光照明不均或亮度不佳時進行檢查調整，特別是在移動了熒光顯微鏡位置、過度振動、誤觸碰了聚光和對中調節螺桿等情形后。在研究室熒光裝置在視場光闌的基礎上加配置孔徑光闌調節，并定期檢查熒光激發光路中心，根據標本情況調節孔徑光闌和光路聚焦。汞燈在開啟約5分鐘后達到zui佳弧光照明亮度，一旦關閉必須等15～20分鐘后方可再次開啟（待汞蒸汽復至常態）。