我國科學家在單分子精密測量方面取得重要進展

　　精確測定分子的化學結構、識別其化學物種一直是表面科學的核心問題，即使在單個分子層次上，分子結構、電子態及其激發態、化學鍵振動、反應動力學行為等多維度的內稟屬性也表現出顯著的特異性。分子多維度內稟參量的精密測量是一個極具挑戰性的前沿問題。

　　在國家重點研發計劃“納米科技”重點專項支持下，我國科學家發展了多種掃描探針顯微成像聯用技術，實現了對單分子在電、力、光等外場作用下不同內稟參量響應的精密測量，在單化學鍵精度上實現了單分子多重特異性的綜合表征，突破了單一顯微成像技術的探測局限。研究人員利用這一高分辨的綜合表征技術，以并五苯分子及其衍生物作為模型體系，結合電、力、光等不同相互作用，實現了對電子態、化學鍵結構和振動態、化學反應等多維度內稟參量的精密測量。實驗結果表明納腔等離激元激發是導致特定吸附構型下C—H鍵選擇性斷裂的原因，闡明了Ag(110)表面吸附的并五苯分子轉化為不同衍生物的機理。此外通過集成高靈敏度的單光子計數器，把拉曼光譜的實空間成像速度提高了2個數量級，成功地實現了并五苯分子化學反應前后的動態跟蹤與測量。

　　該多維度表征技術方法將為表面催化、表面合成和二維材料中的化學結構與物種識別，以及構效關系的構建提供可行的解決方案，在表面化學、多相催化等研究領域具有重要的科學價值。相關研究成果于2021年2月發表在Science上。