技術原理
在吸收限的高能一方，吸收系數隨光子能量的增加而單調下降。但是假如我們用高分辨率譜儀作細致的觀察，我們將發現，除了簡單的單原子體系，在吸收限的高能一方，吸系數隨光子能量的增加一般呈周期性的變化，我們把吸收限附近一塊放大，就得到所謂的擴展X射線吸收精細結構。
結構特點
擴展X射線吸收精細結構，英文eXtended X-ray absorption finestructure（EXAFS），其特點是：入射到樣品后透射的Xα光、出射的熒光或光電子都產生擴展X射線吸收現象；擴展X射線吸收現象決定于短程有序作用，不需要長程結構，可得到吸收原子鄰近配位原子的種類、距離、配位數、無序度因子；X射線吸收邊具有因子特征，可以調節X射線的能量，對不同元素的原子周圍環境分別進行研究；利用強X射線或熒光探測技術可以測量幾個微濃度的樣品；可用于測定固體、液體、氣體樣品，一般不需高真空，不損壞樣品。采用能量色散技術，一個擴展X射線吸收譜可在幾個微秒內完成，能用于跟蹤物質的制備和反應過程，直接給出動力學信息。