掃描探針顯微鏡控制器是一種用于物理學領域的分析儀器，于2018年3月2日啟用。
技術指標
電流輸入噪聲：5.8 pA(RMS)， 帶寬7 kHz； 輸入： /-10V，帶寬100 kHz，18bit，1MS/s； 輸出： /-10V，帶寬50 kHz，20bit，500 KS/s； 高壓輸出： /-150V，RMS噪聲小于49 ?V (0-5 kHz)，輸出噪聲 3.0 mVpp (10 Hz-10kHz)； 樣品偏壓輸出： /-10V，輸出噪聲0.030 mVpp (0 Hz-300 Hz)； 前置放大器：Gain：10e3-10e9 V/A； AFM信號輸入： /-1V Sine，16bit，100MS/s ，5.4 pHz (@200 Hz-5 MHz)； AFM激發信號輸出： /-10V，18bit，100MS/s ，8 nV/√Hz (@200 Hz-10 MHz)； AFM功能：Lock-in，PLL，Kelvin Probe； 數據采集：同時10個通道，圖像分辨率8192?8192。