掃描隧道顯微鏡的分辨率為什么比原子力顯微鏡大？

原子力顯微鏡（AFM）和掃描隧道顯微鏡（STM），通常情況下，并不是用來觀察極限分辨率尺度樣品的。顯微鏡并非一定要使用最大分辨率拍攝每張照片，所以不能用某一張圖片的分辨率來代表機器的技術信息。

STM的圖像本質是由電子態密度的卷積得到的電流所獲得的，這個電子態密度決定于針尖原子和被掃描樣品的表面。STM有一種恒高度工作模式，就是保持針尖與樣品表面的高度不變通過電流大小的反饋控制針尖的位置，而這個電流十分敏感，約0.1納米的改變量就會造成電流大小數量級上的變化，換句話說在Z軸上，即針尖所在軸的分辨率可以達到0.01納米的量級，而決定這個變化的因素一般就是針尖上的幾個原子。因此做STM一個好的針尖很重要，不好的針尖會帶來很大的“邊際效應”比如雙針尖或者圖像不連續出現重影等狀況。 AFM本質是相互作用力的大小，引力斥力都有，而且在相對范圍內的原子數量比STM要多得多并且參與AFM的成像，所以其分辨率會相對低一些，但是AFM的適用范圍廣多了，而且做得好的納米級別的AFM也不是沒有。