散裂中子源高能中子單粒子效應測試束線可行性討論會

會議現場

　　8月6日，中國散裂中子源(CSNS)高能中子單粒子效應(SEE)測試束線可行性討論會在中科院高能物理研究所召開。來自中國原子能科學研究院、中科院物理所、中山大學和中科院高能所的11名專家，包括3位院士參加了會議。

　　首先，CSNS工程常務副經理馬力對與會專家的到來表示了歡迎。CSNS工程科學技術委員會中子散射應用分委員會主任王鼎盛院士介紹了CSNS高能中子SEE測試束線可行性方案的征求意見情況。CSNS工程實驗分總體副主任梁天驕匯報了CSNS高能中子SEE測試束線的可行性。中國原子能科學研究院核物理研究所所長陳東風和郭剛教授報告了在原子能院串列加速器上開展SEE研究的情況，同時表達了合作開展研究的意愿。高能所唐靖宇研究員匯報了對 CSNS上建設高能中子SEE束線的建議。中山大學龍振強教授介紹了高能中子SEE束線的國外研發現狀，并就其建設中的關鍵技術，已具備的有利條件和尚缺的關鍵技術作了報告。

　　最后，會議進行了熱烈的自由談論，與會專家深入分析了CSNS高能中子SEE束線的必要性和可行性，總結了SEE束線的特點和優點，并就CSNS上建設SEE束線的技術問題提出了許多建設性的意見和建議。與會專家們希望通過依托加速器和反應堆國家重大科技基礎設施，為科學前沿領域和國家重大需求提供先進的科學平臺和實驗支撐保障。

　　單粒子效應(又稱單事件效應，Single event effect)是指高能粒子及其次級粒子在電子器件的靈敏區內產生大量空穴一電子對，導致器件邏輯狀態、功能等變化甚至損傷器件的現象，包括翻轉、瞬態脈沖、功能中斷等軟錯誤以及閂鎖、燒毀、柵極擊穿等硬損傷。繼重離子、α粒子和質子之后，高能中子單粒子效應的潛在危害日益增加，高能中子單粒子效應的分析、測試在航空電子、國防等方面都有重要應用。