2011年3月13日～3月18日，在美國亞特蘭大舉辦的Pittcon 2011展會上， 日本電子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。
Spiral Tof-Tof
Spiral Tof-Tof 有15m的飛行時間，比常規的MALDI TOF/TOF儀器超出一個數量級的時間，因此能夠進行同位素前體離子的選擇，選擇的前體來自同一母離子，光譜分析結果更加簡單。
JMS-S3000是日本電子配備獨特的離子光學系統Spiral TOF的一款MALDI-TOF 質譜儀。它具有高分辨率和靈敏度，在科學研究中擁有公認的特殊性能，成為一款領先的分析工具，普遍適用于聚合物合成，材料科學和生物高分子領域研究。
日本電子 JMS-S3000
InTouch Scope SEM
日本電子InTouchScope可移動掃描電鏡提供的成像和分析結果觸手可及，無線功能和一個渦輪泵使之成為一個真正獨立的掃描電子顯微鏡，不受使用地點限制。InTouchScope拓展新的掃描電鏡和多點觸摸技術，以及最新的，高度直觀的圖形界面。用戶可以通過觸摸屏幕擴展應用程序窗口和協調所有功能，低真空掃描電子顯微鏡(SEM)集成了最新的硅漂移探測器(SDD)技術和能量色散譜(EDS)電子顯微鏡全新的功能。成像分辨率高，低真空運行，還有一個大的中央標本庫，這些標準車載功能，使之成為一個高度靈活的掃描電鏡。
日本電子 InTouch Scope SEM
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