四．微分干涉稱鏡檢術（Differential interference contrast DIC）
微分干涉鏡檢術出現于60年代，它不僅能觀察無色透明的物體，而且圖象呈現出浮雕壯的立體感，并具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點，觀察效果更為逼真。
原理；
微分干涉稱鏡檢術是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等，光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現重影現象，使圖象呈現出立體的三維感覺。
微分干涉圖片
DIC顯微鏡的物理原理完全不同于相差顯微鏡，技術設計要復雜得多。DIC利用的是偏振光，有四個特殊的光學組件：偏振器（polarizer）、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器（analyzer）。偏振器直接裝在聚光系統的前面，使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了偌瑪斯斯棱鏡，即DIC棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。最初兩束光相位一致，在穿過標本相鄰的區域后，由于標本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個偌瑪斯斯棱鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波合并成一束。
這時兩束光的偏振面（x和y）仍然存在。最后光束穿過第二個偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時，沒有光穿過檢偏器；光程差值等于波長一半時，穿過的光達到最大值。于是在灰色的背景上，標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到最佳狀態，可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕
微分干涉原理圖
五.偏光顯微鏡（Polarizing microscope POL ）
偏光顯微鏡的特點
偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色發來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點，就是將普通改變為偏光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。
雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。在生物學和植物學也有應用。
六.浮雕相襯顯微鏡（RC HMC ）
1975年，Robert Hoffman 博士發明
2002年，ZL到期，各顯微鏡廠家紛紛推出采用以自己名義命名的RC技術產品
原理
斜射光照射到標本產生折射、衍射，光線通過物鏡光密度梯度調節器產生不同陰影，從而使透明標本表面產生明暗差異，增加觀察對比度
特點
提高未染色標本的可見性和對比度；
圖象顯示陰影或近似三維結構而不會產生光暈；
可檢測雙折射物質(巖石切片、水晶、骨頭) ；
可檢測玻璃,塑料等培養皿中的細胞,器官和組織；
聚光鏡的工作距離可以設計的更長；
RC物鏡也可用于明場,暗場和熒光觀察
七：熒光顯微鏡（Fluorescence Microscopy FL）
熒光鏡檢術是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體，使之受激發后而產生長波長的熒光，然后觀察。
熒光圖象
優點：
? 檢出能力高（放大作用）
? 對細胞的刺激小（可以活體染色）
? 能進行多重染色
用途：
? 物體構造的觀察——熒光素
? 熒光的有無、色調比較進行物質判別——抗體熒光等
? 發熒光量的測定對物質定性、定量分析
熒光原理圖