景深問題

傳統的光學顯微鏡在高倍率成像往往受制自身的景深問題，往往不能完整地體現視場中的全部信息，離焦信號會嚴重影響成像質量。激光共聚焦顯微鏡利用共聚焦結果濾去了離焦光的影響，將各個焦平面的信息合成，能很好的克服景深的問題，合成高質量的圖像，從而提高了光學顯微鏡在高倍率成像下的可用度。

前文提到了現今觸控屏膜層愈加復雜，而它所能做到的對透明膜層的光學切片功能可以只通過光學的非接觸式掃描而不去破壞樣品就獲知各膜層的信息，這無疑對觸控屏的研發與檢測有著巨大的幫助。

同時對于濺鍍了消影層的ITO玻璃，借助自身的激光光源成像，能觀察到可見光無法觀察到的ITO形貌，能快速地定位出ITO線路的微米級的缺陷。故在觸控屏領域，就光學成像的能力而言，激光共聚焦掃描顯微鏡相較傳統的光學顯微鏡有較大的優勢。