晶體結構測定方法

晶體結構測定方法，crystal structure determination，即利用晶體 X射線衍射可測定晶體結構。但衍射實驗只能測得衍射強度（即結構振幅）而測不到相角，這樣就不可能直接從強度得到晶體結構數據，而要利用其他方法。