楊光：氧化物及納米材料的球差校正透射電鏡分析

　　2014年8月26日，第十三屆全國青年分析測試學術報告會在陜西西安南洋大酒店隆重開幕。本屆全國青年分析測試學術報告會由中國分析測試協會青年學術委員會舉辦，西安交通大學電子材料研究所承辦，來自全國各地的分析測試學界代表近200人參加了此次報告會。來自西安交通大學電子材料研究所的楊光教授為大家帶來題為《氧化物及納米材料的球差校正透射電鏡分析》的報告。

西安交通大學電子材料研究所 楊光教授

　　透射電鏡的工作原理是將樣品通過特殊的方法制備成100nm以下，然后用電子束轟擊樣品，在樣品表面產生一系列的信息，可以被掃描電鏡分析到。掃描電鏡能分辨納米級別的材料，透射電鏡能分辨出埃米級。楊光教授在報告中介紹了透射電鏡的相關技術，作為一種材料分析的儀器在材料結構、成分分析的應用，并以氧化物和金屬催化劑材料為例進行說明。另外還介紹了球差校正透射電鏡的原理等內容。