成像橢圓偏振技術正在引起越來越多的興趣。研究人員發現利用成像橢偏技術可實現超小塊薄膜分析、原位橢偏測量、各種液體環境下的橢偏分析并且可以實現和多種技術聯用,如布魯斯特角顯微鏡、表面等離子共振、原子力顯微鏡、石英晶體微天平、LB槽、反射光譜儀、太赫茲光譜儀以及拉曼光譜儀等等。這些新特點拓展了橢偏儀的應用領域。這橢偏技術帶來了新的研究熱點的同時也給該技術帶來了挑戰,例如在非穩定液體表面的薄膜的測量和顯微成像等。
分析測試百科網訊近日,HORIBA公司宣布推出新的模塊化橢偏儀——UviselPlus,旨在提高薄膜測量的靈活性。該設備配備了尖端的FastAcq采集技術,利用新的電子數據處理和高速單色儀,可以在三分......
光偏振現象的應用在日常生活中無處不在,比如液晶顯示屏、3D眼鏡等;在光伏、納米、半導體芯片等高端制造中,也常用到一種利用光偏振現象的儀器,那就是橢偏儀,它最拿手的就是測量納米級薄膜的厚度、折射率、消光......