（1）電離干擾 電離干擾（ionizationinterference）是由于待測元素在原子化過程中發生電離使參與吸收的基態原子減少而造成吸光度下降的現象。采用低溫火焰和加入消電離劑可以有效地抑制和消除電離干擾。
（2）基體干擾 基體干擾（matrixinterference），又稱為物理干擾，指試樣在轉移、蒸發和原子化過程中，由于試樣物理特性（如密度、壓力、粘度、表面張力）的變化而引起吸收強度下降的效應。物理干擾是非選擇性干擾，配制與被測試樣相似組成的標準樣品或采用標準加入法進行分析是消除物理干擾的主要方法。
（3）光學干擾 光學干擾（opticalinterference）是指原子光譜對分析線的干擾，主要包括光譜線干擾和非吸收線干擾。
光譜線干擾是指在所選光譜通帶內，被測元素的分析線與試樣中共存元素的吸收線相近或重疊而產生的干擾，造成分析結果偏高。通常通過另選分析線或用化學方法分離共存元素來消除光譜線干擾。
非吸收線干擾是一種背景吸收，是指原子化過程中生成的氣體分子、氧化物、鹽類等對共振線的吸收及微小固體顆粒使光產生散射而引起的干擾。非吸收線干擾是寬帶吸收，干擾比較嚴重。原子吸收分析中多用HNO3、HCl及它們的混合物來配制溶液。
（4）化學干擾 化學干擾（chemicalinterference）是指在溶液或氣相中，由于待測元素與其它組分之間發生化學反應而離解和原子化的現象。化學干擾是原子吸收分析中的主要干擾來源。消除化學干擾，一般采取下列抑制方法：①加入釋放劑，釋放劑與干擾組分形成更穩定或更難揮發的化合物，使被測元素釋放出來；②加入保護劑，保護劑與被測元素形成穩定而又易于分解和原子化的配合物；③適當提高火焰溫度，抑制或避免某些化學干擾的發生。