理學推出NEXLS掃描多元素涂層分析儀

　　Rigaku NEX LS掃描儀為卷筒紙和卷材應用執行多元素組成，涂層重量和涂層厚度分析。

　　Rigaku NEX LS能量色散X射線熒光線性掃描儀

　　分析測試百科網訊 2018年2月26日，應用理學技術公司（ART）宣布發布新型Rigaku NEX LS掃描多元素涂層分析儀。該儀器是Rigaku高性能X射線分析儀器系列的新成員，Pittcon 2018的ART展臺（2001號）上首次亮相。

　　Rigaku NEX LS分析儀采用先進的第三代能量色散X射線熒光（EDXRF）技術，代表了掃描多元素過程涂料分析儀的下一個發展，為鋁（13Al）和鈾元素（92U）的分析提供了快速，無損分析。

　　臺式 EDXRF 光譜儀長期以來一直是使用硅油作為屏障層、釋放涂層或 denesting 劑的工業所熟知的技術。Rigaku NEX LS掃描儀專門設計用于維護卷材和卷材應用，并具有執行多元素成分，涂布重量或涂層厚度分析的能力。

　　這種新型儀器是一個掃描測量系統，由一個安裝在機動車架上的EDXRF測量頭組成，該系統通過移動的網狀物（或線圈）來回傳輸頭部，同時將橫向測量數據傳輸到控制箱和工業觸摸屏屏幕電腦。測量頭的線性運動機構可確保恒定的頭對面距離。數據實時顯示為跨網頁和網頁圖形輪廓。

　　Rigaku NEX LS分析儀配備50 kV X射線管和Fast?SDD檢測器，旨在為廣泛的過程控制涂層應用提供服務。

　　關于Rigaku

　　自1951年在日本成立以來，Rigaku一直處于分析和工業儀器技術的前沿。Rigaku及其子公司組建了一個全球性集團，專注于通用分析儀器和生命科學。憑借數以百計的重大創新，Rigaku公司在X射線光譜測定，衍射和光學以及小分子和蛋白質晶體學和半導體計量方面處于世界前列。如今，Rigaku在分析設備的制造和支持方面擁有超過1400名員工，該分析設備在全球90多個國家使用，支持研究，開發和質量保證活動。在整個世界范圍內，理學不斷在全球科學界和工業界推動合作伙伴關系，對話和創新。