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  • 發布時間:2018-03-20 14:55 原文鏈接: 用于測定顆粒粒度分布的篩分易巧稱量件上市

    梅特勒-托利多:用于測定顆粒粒度分布的篩分易巧稱量件上市

    -- One Click?一鍵稱量篩分分析解決方案

     


    篩分易巧稱量件是可放置在精密天平秤盤上的選配件,用于固定篩堆安全放置在天平正確的位置。

     


     


    完整的
    One Click? 一鍵稱量篩分分析解決方案

     


    使用天平觸摸屏上的
    One Click?快捷鍵即可方便的啟動方法。使用自動稱量偵測,無需接觸任何按鍵,篩子就能被連續稱量。LabX在天平上提供了清晰的一步一步的指令,自動保存數據并進行計算。完整的解決方案專為您的流程需求而度身定制。


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    一鍵啟動任務

    篩分

    回稱

    結果

    記錄存檔


               通過觸摸屏輸入樣品
    ID。


               通過
    SmartTrac?指導樣品稱量。


               聲音信號提示下一步篩分。


               顯示分布的百分比。


               所有數據被自動記錄下來。

    無需任何按鍵,稱量所有空篩。

    暫停任務,在篩分震動器上完成篩分。

    自動計算出每個篩子所占質量的權重。

    更多計算出的結果,例如尺寸d50網格篩子。

    可隨時打印定制的有圖形曲線的報告。


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