定義：測量中不應該有光的地方有光叫雜散光(SL)。它是分析誤差的主要來源之一,會直接限制儀器的檢測上限。
測試方法：冷態開機預熱30min,SBW=2nm,用標準光源或標準片測試口；如：用He—Ne Laser(標準光源),在632．8±5nm處測試。實測3次,取均值即是(法國JY標準)。用截止濾光片法,在220nm和340nm處測試。實測3次,取均值即是(中國GB標準,國際上均如此) 。
