美國PSS公司NICOMP380Z3000納米粒徑與電位分析儀簡介

NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9μm;）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。粒度測試范圍：粒度測試范圍：0.3 nm – 10 μm。

NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，是表征膠體分散系穩定性的重要指標，Zeta電位（正或負）越高，體系越穩定。Zeta電位表征的是粒子之間的排斥力。由于大部分的水相膠體體系是通過粒子之間的靜電排斥力來保持穩定的，粒子之間的排斥力越大，粒子越不容易發生聚集，膠體也會越穩定。NICOMP 380 Z3000結合了動態光散射技術（DLS）和電泳光散射法（ELS），實現了同機測試納米粒子分布和Zeta電勢電位。

自動滴定儀

NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀在增加自動滴定模塊后，可以一次性使用同一樣品在不同PH值或不同離子濃度的條件下進行一系列測試，實現了在等電點測試的技術難題。

相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技術

PSS 于 2004 年推出領先的 PALS 技術，用相位（Phase）變化的分析取代原 先頻譜的漂移，不僅使 Zeta 電位分析的精度及穩定性有了顯著的提高，而且突破了水相體系的限制，對油、有機物體系同樣能提供 Zeta 電位的分析。

NICOMP 380 Z3000 納米粒徑與電位分析儀特點

 同機測試懸浮液體的粒徑分布以及ZETA電勢電位

Zeta電位運用了多普勒電泳遷移原理以及最新的相位分析散射法可以測試水相和有機相的樣品

檢測范圍寬廣，亞微米顆粒均可以被檢測

樣品測試量小

高辨析率

結果重現性好，誤差小于1%

100 % 樣品可回收利用

可搭載自動滴定儀, 自動稀釋器和自動進樣器

無須校準

一次性進樣，避免交叉污染樣品

可選配大功率激光發生器以及軍品級APD雪崩二極管檢測器來檢測粒徑小于1nm的顆粒