蔡司SEM家族再添新成員全新Sigma300RISE關聯顯微系統上線

　　近期，蔡司在北京正式發布了全新Sigma300-RISE關聯顯微鏡系統。作為一家擁有170多年歷史且專注于顯微技術研發的企業，蔡司從未停止其與科研俱進的腳步。

　　與德國Witec公司合作，蔡司對共焦Raman顯微鏡系統進行了改進，實現了快速Raman成像（Fast Raman Imaging），并成功將其集成到現有的SEM平臺上，實現了關聯SEM-EDS-Raman成像分析能力。至此，繼EDS，EBSD, CL, EBL等各種分析與材料改性功能后，蔡司SEM平臺的新家族成員 – RISE（Raman Imaging Scanning Electron Microscope）,即關聯SEM-Raman顯微鏡系統的加入，為您的科研提供了全方位的解決方案。

　　作為全新的關聯分析解決方案，蔡司Sigma300-RISE系統不僅能夠實現FESEM和傳統共焦Raman分析的所有功能，同時還帶來了更為高效而強大的分析能力：

基于蔡司獨特Gemini技術的高分辨、高兼容性FESEM

基于蔡司高性能光學顯微鏡Axio Scope的共焦Raman顯微鏡

快速的2D和3D Raman成像，與傳統Raman Mapping相比極大地提升了成像速度

SEM, EDS, Raman圖像的位置關聯與重合，實現真正的原位多角度分析

　　先進的一體化設計保證了整個系統的穩定性，在測試過程中樣品始終處于SEM腔室中，同時快速的原位關聯技術保證了測試的精確性與高效性，從而使蔡司SEM-RISE關聯顯微鏡系統能夠廣泛應用于材料科學（納米材料，二維材料，高分子材料，碳材料，生物材料研究等），半導體，地質，礦物分析，生命科學，制藥，能源等領域。

　　應用案例：

有機聚合物的相分離

　　通過蔡司Gemini優秀的低電壓成像技術對PMMA/PS聚合物進行成像，并使用關聯共焦Raman顯微鏡對PMMA和PS兩種成分進行區分。

二維材料的表征

　　通過SEM與Raman成像的關聯實現對不同層數石墨烯的表征，以及石墨烯層間扭曲角度的分辨

Li離子電池研究

　　SEM-EDS-Raman共同關聯，對Li離子電池的正負極材料，以及電池隔膜在電池老化過程中的變化進行分析

礦物分析

　　對鐵礦石中不同礦物相的分離，以及對同一礦物不同相晶體取向的表征

　　目前，蔡司Sigma300-RISE關聯顯微鏡系統已經在蔡司北京客戶中心安裝完成并投入使用，歡迎各位老師蒞臨交流。