負離子熱表面電離質譜法是近年發展的質譜技術,可以用于金屬同位素年齡的研究,為年代學的研究提供了有力保障[19]。和ICP-MS 不同,該法是通過質譜對
待測元素的負離子進行測試的。由于元素形成負離子所需的能量較形成正離子的能量低很多,所以離子化率高,檢出限比ICP-MS低。
Creaser用NTIMS分析Re2Os 體系,他們的離子產率分別為:2 %～6 %(Os) , > 20 % (Re) ,檢出限達 pg/ml[20]。由于該法分析Re2Os 沒有同量異位干擾,不需要分離 Os和Re ,簡化了整個分析流程。盡管高純金屬多元素的分析越來越多地用等離子體質譜法測定,但是等離子體質譜法存在Os和Re 同位素的同量異位干擾問題,所以能精確測試 Os和Re 的NTIMS方法有不可取代的作用。