在規定探傷靈敏度下，從探傷面至能沒出缺陷的小距離。
一、水平線性
1）測準零點；
2）聲程標度設為Y或S；總聲程范圍設為125mm（即每格聲程設為12.5mm）；
3）使25mm厚試塊的一至五次回波依次出現在第二、四、六、八和十格，保持探頭不動，調整增益、進波門位，使進波門內回波高為50%，依次讀出一至五次回波聲程值（Y或S）。
二、分辨力測試
1）用戶在CSK-IA試塊上移動直探頭，當85mm和91mm兩處的回波波峰等高且調至50%，記下增益值A。
2）穩住探頭，將85mm和91mm兩處的回波波谷調至50%，記下增益值B。
3）分辨力=A-B
三、垂直線性
1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
2）增益步長調至2dB，增益每次比上次減2dB。
3）每減一次增益記下當前波幅值%。
四、動態范圍
1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
記下增益值A。
2）使200mm深F2平底孔處的回波高調對剛剛能看到波幅，
記下增益值B。
3）動態范圍=A-B。
五、靈敏度余量測試
1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為50%。
記下增益值A。
2）除去探頭，增加增益，使噪聲電平達10%，記下增益B。
3）靈敏度余量=A-B。