超聲波測厚儀,基于超聲波測量原理,可對金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他多種超聲波的良導體材料進行厚度測量,也可實現對材料聲速的反測。與傳統的測量方法相比,超聲波測厚儀的優勢在于它只要接觸到被測工件的一面即可完成測量,其獨特的可穿透涂層測厚度的性能為表面涂有油漆或防腐材料的工件厚度檢測提供了更加的解決方案,測量前無需處理掉表面的涂層,可以直接測量。被廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領域的生產設備中各種管道及壓力容器腐蝕減薄程度的監測,也可用于對各種板材及各種加工零件做的測量。是提高生產效率與合格率、節約成本必備的專業精密儀器。
功能用途
適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度具有兩種測厚模式:發射-回波模式和回波-回波模式,可以穿透涂層進行厚度測量而不計入涂層厚度
具有探頭零點校準、兩點校準功能, 可對系統誤差進行自動修正
已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度
具有耦合狀態提示功能
有EL背光顯示,方便在光線昏暗環境中使用
有剩余電量指示功能,可實時顯示電池剩余電量
具有自動休眠、自動關機等節電功能
帶有USB接口,可以方便、快捷地與PC機進行數據交換
可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用
可選擇配備微機軟件,具有傳輸測量結果、測值存儲管理、測值統計分析、打印測值報告等豐富功能
本超聲波測厚儀對厚度的測量,是由探頭產生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體,一部分超聲信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,地計算超聲波的往返時間,并按下式計算厚度值,再將計算結果顯示出來。
H=v×t/2
式中: H-測量厚度
v-材料聲速
t-超聲波在試件中往返一次的傳播時間
為確保探頭正常工作,需使用耦合劑以隔絕探頭表面與待測工件表面間的空氣,這種液體用于探頭及工件間的耦合,稱之為耦合劑
環境溫度:操作溫度-20℃~+50℃
存儲溫度:-30℃~+70℃
相對濕度≤90%
周圍環境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質及嚴重粉塵
2018年6月19日,英國牛津:日立分析儀器公司(日立分析儀器),是日立高新技術公司(TSE:8036)旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日,日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀......
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