邁克爾遜干涉儀,是1883年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器.它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉.通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋.主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2.在近代物理和近代計量技術中,如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用.利用該儀器的原理,研制出多種專用干涉儀.※特別強調：干涉條紋是等光程差點的軌跡,因此,要分析某種干涉產生的圖樣,必求出相干光的光程差位置分布的函數.若干涉條一架光學臺上的邁克耳孫干涉儀紋發生移動,一定是場點對應的光程差發生了變化,引起光程差變化的原因,可能是光線長度L發生變化,或是光路中某段介質的折射率n發生了變化,或是薄膜的厚度e發生了變化.