a、探頭的阻性負載，也就是探頭的接入系統中以后對系統電流的分流作用的大小，在數字系統中，系統的電流負載能力一般在幾個KΩ以上，分流效應對系統的影響一般可以忽略，現在流行的幾種長邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20～200KΩ之間。
b、探頭的容性負載：容性負載就是探頭接入系統時，探頭的等效電容，這個值一般在1～30PF之間，在高速系統中，容性負載對電路的影響遠遠大于阻性負載，如果這個值太大，將會直接影響整個系統中的信號“沿”的形狀改變整個電路的性質，改變邏輯分析儀對系統觀測的實時性，導致我們看到的并不是系統原有的特性。
c、探頭的易用性：是指探頭接入系統時的難易程度，隨著芯片封裝的密度越來越高，出現了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式，IC的腳間距最小的已達到0.3mm以下，要很好的將信號引出，特別是BGA封裝，確實有困難，并且分立器件的尺寸也越來越小，典型的已達到0.5mm×0.8mm。
d、 與現有電路板上的調試部分的兼容性。