X射線熒光光譜分析法
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄和探測儀器水平的限制，無法實現。40年代末，隨著核物理探測器的改進,各種計數器相繼應用在X射線的探測上，此法的實際應用才成為現實。1948年H.弗里德曼和 L.S.伯克斯制成了一臺波長色散的X射線熒光分析儀，此法才開始發展起來。此后,隨著X射線熒光分析理論和方法的逐漸開拓和完善、儀器的自動化和計算機水平的迅速提高，60年代本法在常規分析上的重要性已充分顯示出來。70年代以后，又按激發、色散和探測方法的不同，發展成為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）兩大分支，兩者的應用現已遍及各產業和科研部門。 儀器 X射線熒光分析......閱讀全文
X射線熒光光譜分析法
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄
X射線熒光分析法
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射，其波長為?0.01?～?10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光光譜分析法的簡介
X射線熒光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。
X射線熒光光譜分析法的特點
(1）分析速度快。 (2）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態及物理狀態無關。 (3）非破壞分析。 (4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對化學性質上屬于同一族的元素也能進行分析。 (5）分析精密度高。 (6) X射線光譜比發射光譜簡單,故易于解析。 (7）制樣簡單。 (8）X射線
X射線熒光分析法的應用
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X射線熒光光譜原理
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能
x射線衍射、x熒光、直讀光譜區別
1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業. 基
X射線熒光光譜和熒光光譜－區別
一、理論上。熒光光譜是比較寬的概念，包括了X射線熒光光譜。二、從儀器分析上，熒光光譜分析可以分為：X射線熒光光譜分析、原子熒光光譜分析，1）X射線熒光光譜分析——發射源是Rh靶X光管2）原子熒光光譜分析——可用連續光源或銳線光源。常用的連續光源是氙弧燈，常用的銳線光源是高強度空心陰極燈、無極放電燈、
激發X射線熒光分析法的概念
當α 、β、γ或X射線作用于樣品時，由于庫侖散射，軌道電子吸收其部分動能，使原子處于激發狀態。由激發態返回基態時發射特征X射線，根據此特征X射線的能量和強度來分析元素的種類和含量。其靈敏度很高，用途很廣。
X射線熒光分析法的應用特點
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用于原
X射線熒光分析法的未來展望
X射線熒光分析法同其他分析技術一樣，不是完美無缺的。在物質成分分析中，它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟，只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（例如選礦流程中的自動控
關于X射線熒光光譜分析法的簡史介紹
20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄和探測儀器水平的限制，無法實現。 40年代末，隨著核物理探測器的改進，各種計數器相繼應用在X射線的探測上，此法的實際應用才成為現實。 1948年H.弗里德曼和L.S.伯克斯制成了一臺波長色散的
X射線熒光光譜分析法的應用領域
X射線熒光分析法可用于冶金、地質、化工、機械、石油、建材等工業部門，以及物理、化學、生物、地學、環境科學、考古學等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動態分析等。在常規分析和某些特殊分析方面，包括工業上的開環單機控制和閉環聯機控制，本法均能發揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3（鋰）的
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜的概念
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
什么是X射線熒光光譜
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光光譜分析法有沒有缺點？
(1）難于作分析,故定量分析需要標樣。 (2）原子序數低的元素，其檢出限及測定誤差都比原子序數高的元素差。
X－射線熒光光譜分析
本文評述了我國在2005年至2006年X射線熒光光譜,包括粒子激發的X射線光譜的發展和應用,內容包括儀器研制、激發源、探測器、軟件、儀器改造、儀器維護和維修、樣品制備技術、分析方法研究和應用。?更多還原
X射線熒光光譜儀結構
該系統由X射線發生器、光譜儀主體部分、電氣部分及系統控制器、計算機部分組成。3.1?X射線發生器 X射線發生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、X射線管、熱交換器。?3.1.1高壓變壓器及管流管壓控制單元 產生高穩定的高壓加到X射線管上用以產生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產
X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先，與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜，以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高，操作簡便，適合于多種類型的固態和液態物質的測定，并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞，強度測量的再現性好，以及便于