? 原理：多孔盤共聚焦技術（ZL），可進行更快速的圖像采集，即使在強光照明環境下，系統仍然可以保持非常低的雜散光并獲取非常穩定的信號，因此，納米級的高度分辨率得以實現，多孔盤上針孔的隨機分布，從原理上防止了兩個相鄰點在同一時間段的測量。與傳統的直線掃描相比，散射光干擾、人為誤差以及機器測量缺陷得以克服。
? 光源：LED（10年壽命）（475nm）
? 測量項目：立體測量，形狀、輪廓測量，平面度、同面度，摩擦學、軸承表面，特定體積測量，2D/3D粗糙度，層厚測量（透明/半透明）
? 拼圖：500張高清拼圖（拼接模式下并不減少測量點的數量）
? 形狀追蹤：自動測量范圍追蹤，形狀追蹤無需預先設置即可對凸面、凹面，以及波形面進行追蹤拼接