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晶體材料由于具有有序結構而表現出許多獨特的性質，成為特定的功能材料，制成器件廣泛應用于微電子、自動控制、計算通訊、生物醫療等領域。功能晶體材料的的微觀結構決定其性能，因此對其微觀結構的解析一直是科學研究的熱點之一。 研究晶體結構通常的方法是 X-射線單晶衍射技術(SXRD, Single crystalX-ray diffraction)和 X-射線粉末衍射技術(PXRD, Powder X-ray diffraction)，科學家們應用此兩項技術已經解析了數目非常龐大的晶體結構。然而 X-射線衍射技術對于解析的晶體大小有限制，即使是應用同步輻射光源也只能解析大于微米級的晶體，無法對納米晶體的結構進行解析。相對于 X-射線，電子束由于具有更短的波長以及更強的衍射，因此電子衍射應用于納米晶體的結構分析具有特別的意義，透射電鏡不僅可對納米晶體進行高分辨成像而且可進行電子衍射分析，已成為納......閱讀全文
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。 它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。 其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。 在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。 &nb
目前，已經成功研制出的掃描電鏡包括了：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡( LVSEM)、環境掃描電鏡( ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM )、掃描探針顯微鏡( SPM )，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾
目前，已經成功研制出的掃描電鏡包括：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡( LVSEM)、環境掃描電鏡( ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM )、掃描探針顯微鏡( SPM )，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾種
實驗一 透射電子顯微鏡 的原理與演示 解剖、觀察和分析歷來是生物學研究的基本手段。用于細胞解剖觀察的主要工具就是顯微鏡，它是我們觀察細胞形態最常用的工具。但其分辨率的最小數值不會小于0.2mm(紫外光顯微鏡的分辨率也只能達到0.1mm), 這一數值是光學顯微鏡分辨率的極限。限制顯微鏡分辨率
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy,TEM）是通過穿透樣品的電子束進行成像的放大設備。電子束穿過樣品以后，帶有樣品之中關于微結構及組成等方面的信息，將這些信息進行方法和處理，便可得到所需要的顯微照片及多種圖譜。現在商業透射電鏡最高的分辨率已經達到了0
眼睛是人類認識客觀世界的第一架“光學儀器”，但它的能力卻是有限的，通常認為人眼睛的分辨率為0.1 mm。17世紀初，光學顯微鏡（圖1）出現，可以把細小的物體放大到千倍以上，分辨率比人眼睛提高了500 倍以上，這也是人類認識物質世界的一次巨大突破。隨著科學技術的不斷發展，直接觀察到原子是人們一直以來的
分析測試百科網訊 前一陣子，小編轉了一篇關于FEI歷史的短文：透射電鏡江湖紛爭（二）：FEI ，其中尚有意猶未盡之感，因為畢竟FEI最近太火，因此又搜集學習了一些資料，這里再原創一篇，希望可以幫大家更好地了解FEI（已并入賽默飛），尤其是它的透射電鏡。 作為最早商業化電子顯微鏡的企業，在業內幾
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、
掃描電子顯微鏡已成為表征物質微觀結構不可或缺的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質發生相互作用，可產生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質化學成分的信息，這些得到的都是
透射電鏡樣品桿是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備，利用透射電鏡電學測試樣品桿與Quanta250型掃描電鏡相結合，成功搭建出在掃描電鏡和透射電鏡中通用的原位電學性能測試裝置。應用此裝置在掃描電鏡和透射電鏡中實現單體納米材料應變加載下的電學性能測試，充分利用掃描電鏡和透射
掃描電子顯微鏡已成為表征物質微觀結構不可或缺的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質發生相互作用，可產生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質化學成分的信息，這些得到的都是接近
電子顯微鏡 電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。 電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。20世紀70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)。現在電子顯微
分析測試百科網訊 近日，中國科學院金屬研究所透射電鏡、掃描透射電鏡及普通透射電鏡采購項目公開招標，此次采購預算金額1950萬元（人民幣）。招標詳情如下： 項目名稱：中國科學院金屬研究所透射電鏡、掃描透射電鏡及普通透射電鏡采購項目 項目編號：19CNIC-SH1692-032 投標截止時間：
5月29日，清華大學生命科學院博士生張森森的蛋白樣品9時準時在液氮環境下進入冷凍電鏡。幾天后，埃（10-10）級精度的蛋白質“高清3D彩照”將出爐。研究人員可以“直視”單個蛋白質的分子結構，并解出生命運轉機理。 這期間，冷凍電鏡中的電子槍將持續發射電子，每次看一個小單元。為了解釋這個“小單元”
是什么卡了我們的脖子——我們的蛋白質3D高清照片仰賴舶來的透射式電鏡亟待攻克的核心技術 5月29日，清華大學生命科學院博士生張森森的蛋白樣品9時準時在液氮環境下進入冷凍電鏡。幾天后，埃(10-10)級精度的蛋白質“高清3D彩照”將出爐。研究人員可以“直視”單個蛋白質的分子結構，并解出生命運轉機理
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，TEM)具有很高的分辨率和放大倍數高，廣泛應用于材料科學、地球科學、醫學和生命科學等領域。透射電子顯微鏡結合不同的附件(X射線能譜分析(EDS)、電子能量損失譜(EELS))，可以同時提供形貌、成分、結構信息，它可以揭
這是一篇有關電子顯微鏡的綜述，是根據75篇發表使用實驗的文章歸納的。可以幫助讀者找到最適合的電子顯微鏡。日立高新Hitachi High Technologies America為研究碳酸酐酶可通過spidroin蛋白末端功能域促進蜘蛛絲的形成，采用Hitachi的H7100 electr
分析測試百科網訊 2016年10月17日，日立高新技術有限公司與天美（中國）科學儀器有限公司聯合主辦的“球差校正透射電鏡HF5000新品發布會”在北京北大博雅國際酒店召開。來自高校、科研院所等的50余位專家、學者參加了此次發布會。 發布會現場 中科院國家納米中心測試平臺范偉民主任、中國科學院
如今的透射電子顯微鏡市場，可謂是呈三足鼎立之勢：日本電子，日立和FEI。 今天主要介紹一下老大哥日本電子株式會社JEOL。 提起日本電子，大家都不陌生，目前在我國各大科研院所都不難看到JEOL電鏡的影子。日本電子株式會社，是一家世界頂級的科學儀器生產制造商。在這么多的儀器制造商中說它頂級，其
(四)核磁共振儀 核磁共振(NMR)在科學上具有重要的地位并對推動物理、化學、生物、醫學等學科的發展起到了非常重要的作用。因此諾貝爾獎曾6次授予NMR工作者，授獎領域涉及物理(1944、1945、1952年度)、化學(1991、2002年度)、生理或醫學(2003年度)。NMR的廣泛應
2.核磁共振成像儀(MRI) 核磁共振波譜和成像儀器具有“量大面廣”的特性。基于核磁共振原理的儀器還有石油測井儀和探水儀。核磁共振測井儀器能夠提供油井內原油和水的定量分布或原油的儲備信息。每年核磁共振測井量超過3000多口，取得了很好的經濟效益，要求儀器具有快響應和能夠適應地下高溫、
大型透射電鏡 大型透射電鏡（conventional TEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號對應不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關，可達0.2-0.1nm，高端機型可實現原
結合SEM和TEM技術 還有一種電子顯微鏡技術被提及，它是透射電鏡（TEM）和掃描電鏡（SEM）的結合，即掃描透射電鏡（STEM）。 如今，大多數透射電鏡（TEM）可以切換到“STEM模式”，用戶只需要改變其對準程序。 在掃描透射電鏡（STEM）模式下，光束被精確聚焦并
1、結構差異： 主要體現在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發射電子，經過聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續的電磁透鏡繼續放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上；掃描電鏡的樣品在電子束末端，電子源在樣品上方發射的電子束，經過幾級電磁透鏡縮小，到達樣品。當然后續
2011年度日本電子(JEOL)材料科學透射電鏡用戶會會議通知(第二輪) 感謝中國廣大用戶對日本電子株式會社(JEOL)長期以來的支持和信賴，近年來，日本電子在國內共銷售130臺六硼化鑭透射電鏡、52臺場發射透射電鏡和5臺球差校正透射電鏡JEM-ARM200F。 為了加強用戶和廠家之間的
透射電子顯微鏡的發展方向 目前，透射電子顯微術有幾個重要的發展方向。第一，分辨率的提升。分辨率一直是透射電鏡發展的目標和方向，發展新一代單色器和球差校正器，進一步提高透射電鏡的能量分辨率和空間分辨率，尤其是對低壓電鏡。第二，發展原位透射電鏡技術。原位透射電鏡在材料合成、化學催化、生命科學和
掃描電鏡成像方式與透射電鏡不同，是用電視的方式成像。其基本要點是用極狹窄的電子束來掃描樣品，即電子束在樣品上作光柵運動。電子束與樣品相互作用將會產生樣品的二次電子發射，二次電子能產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序地建立起來的，即用逐點成像的方法獲得放大的像。 一、基本結構
上一篇文章主要介紹了日本電子，今天，我們就一起來看看JEOL在透射電鏡領域最有力的競爭者——FEI。 FEI是一家美國的高科技公司，是為全球納米技術團體提供解決方案的創新者和領先供應商, “TOOLS FOR NANOTECH”，生產的產品主要面向半導體、數據存儲、結構生物學、材料和工業領域。
1、結構差異：主要體現在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發射電子，經過聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續的電磁透鏡繼續放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上；掃描電鏡的樣品在電子束末端，電子源在樣品上方發射的電子束，經過幾級電磁透鏡縮小，到達樣品。當然后續的信號探測
1簡介透射電子顯微鏡（TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。 掃描