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透射電鏡高分辨成像是材料等研究領域的重要分析手段，然而高分辨像像襯度（簡稱像襯）與晶體結構之間的關系并不是顯而易見的：像襯除了會受成像條件（如欠焦量）的影響，還隨著樣品厚度的變化而變化，像差校正電鏡中尤其嚴重。所以為了解釋高分辨像襯需要理解成像條件和樣品厚度對像襯的影響。 從物理過程上講，透射電鏡成像分為兩個過程：電子與物質的相互作用形成出射波；出射波經過磁透鏡調制生成電子顯微像。電子與物質的相互作用可以用多層法精確描述，但是由于多層法公式復雜，無法將計算得到的出射波函數與樣品的投影勢函數一一對應起來。為了對高分辨像進行解釋，前人發展了弱相位物體近似理論，在特殊的成像條件下，高分辨像和投影勢圖一一對應。但弱相位物體近似完全忽略樣品厚度對電子的散射，所以無法解釋厚度對圖像襯度的影響。李方華等人將多層法相關思想和弱相位物體近似理論相結合，發展了贗弱相位物體近似理論，在準相干近似下，成功預測高分辨像中原子位置對應的襯度隨厚度的變......閱讀全文
2012年12月17日，北京天文館，2012年度北京市電子顯微學年會隆重召開，年會由北京市電鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦。 旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來
分析測試百科網訊 2019年12月17日，2019年度北京市電子顯微學年會隆重舉行。本次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。會議共有200余人出席、參與。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程跟蹤報道。年會簽
美國《國家科學院院刊》（Proceedings of the National Academy of Science, USA）1月10日在線發表了中國科學院生物物理研究所朱平研究組程凌鵬副研究員等人的研究論文——Atomic model of a cypovirus
高分辨透射電子顯微鏡是研究微觀結構的有力工具。獲得可解釋的高分辨像，樣品厚度要滿足苛刻的要求-弱相位物體近似。可以選擇在Scherzer欠焦下觀察，但有時不得不在大欠焦下拍攝圖像提高圖像襯度，比如在冷凍電鏡中通常拍攝的離焦量為1-2μm，通過扣除成像過程中的襯度傳遞函數來獲得樣品的投影結構。實際
天津匯晶科技發展有限公司的楊新先生 來自天津匯晶科技發展有限公司的楊新先生介紹了《CAMSCAN掃描電鏡最新技術》。Obducat Camscan 公司在掃描電子顯微鏡制造業享有盛譽，是現存歷史最久
分析測試百科網訊 2019年10月16日，2019年全國電子顯微學學術年會在合肥隆重舉行。本屆年會主題是“中國電子顯微學快速發展的新時代”，共開設了10個精彩分論壇，為中國電鏡人帶來一場學術盛宴。本次會議共有近1300余人出席、參與。分析測試百科網與中國電子顯微鏡學會共同為您帶來年會精彩報導。北
2019年上半年很快就結束了，iNature盤點了中國學者在Cell，Nature及Science發表的成果，我們發現總共有86篇（截至2019年6月24日），具體介紹如下： 4-6月發表的文章 【1】2019年6月21日，西北工業大學王文，中科院昆明動物研究所/BGI 張國捷及丹麥哥本哈根