產品主要優勢和特點
UV/VIS/NIR高分辨率的配置
測量準確度在1nm，精度在0.1nm
可測量最大10層薄膜
膜厚測量最小可至1nm，最大可至1mm
可測量最小1nm厚的透明金屬層
提供試驗臺及附件用于復雜外形材料的測量
對表面缺陷和光滑度不敏感
龐大的材質數據庫，保證各種材料的精確測量
快 速： | 每次測量只需輕點一下鼠標，測量結果立即呈現在顯示屏上，不到一秒鐘。應用于在線模式下，可接受到采樣信號后，立即測量。 |
準 確： | 分辨率0.1nm，重復性0.3nm，絕對準確度優于1%，并且還有數百種材料組成的龐大材料庫，幫助您準確分析您的薄膜。同時NanoCalc為光學測試系統，無任何運動部件，不會由于多次測量產生回程誤差等機械運動誤差，可長時間穩定工作。 |
無 損： | 光學無損檢測，無需像臺階儀、SEM等需破壞樣品進行測量。 |
靈 活： | 重量約為3.5kg，體積為180*150*263mm，USB連接方式，自適應90-240V的電壓，攜帶方便，安裝簡單，可任意放置于實驗室、生產線甚至辦公桌上使用。擁有多種特種配件，可適用如非平面測量，顯微測量，mapping等特殊要求。 |
易 用： | 軟件界面直觀，操作簡便，用戶體驗出色。無需專業知識以及復雜的技術培訓，預先設置好測試配方后，每次重復調用即可。 |
性價比高： | 相對于傳統膜厚測量設備，NanoCalc擁有非常高的性價比。 |