Q非破壞性讀數(non-destroy readout, NDRO)和破壞性讀數(destroy readout, DRO)有何區別?
兩種讀數方式分別是CID和CCD兩種檢測器所采用的方式。CID采用這種讀數方式是由其本身缺陷所決定的，由于靈敏度差、讀數噪聲大，它只能采用非破壞性讀數的方式不斷累積電荷提高靈敏度，同時從統計學意義上可以降低讀數噪聲。所謂非破壞性讀數就是在一個周期完了后，控制電路查看檢測單元的電荷大小是否足夠亦即靈敏度滿足要求，如果不夠則繼續累積電荷，反之則將電荷注入到底質，完成讀數。這最后一次讀數實際上也就是破壞性讀數。
從這個意義上說，事實上兩種讀數方式僅僅是中間讀數方式不同罷了，最終將數據傳輸到處理器時CID同樣要做一次破壞性讀數。
具體來說，CCD是在數據積分時不讀數，積分完成后，一次性將數據讀出，并刷新寄存器，開始新的積分。而CID是邊積分邊讀數，積分過程中不刷新檢測器。這就如同寫文章，CCD是寫好一篇文章后交卷，CID是寫一個字交一個字，實際上由于CID積分時不刷新檢測器，導致數據傳輸時間過長，是其易受干擾而且不穩定的主要原因。