SENTERRAII緊湊型拉曼顯微鏡應用

SENTERRA II能夠測量拉曼成像，并將所獲取的空間分辨分子結構信息與樣品的高質量顯微圖像結合在一起。用戶無需制備和接觸樣品即可完成分析，并可獲取空間分辨率精細至一微米以下的樣品表面化學圖成像。此外，透光樣品的深度剖面分析功能支持對樣品進行非破壞性三維檢測。SENTERRA II應用廣泛，適合用于有機和無機材料的檢測、辨別和識別。

藥物

• 區分同物質的不同晶型

• 藥片中的API和賦形劑分布可視化

• 失效分析：顆粒物和雜質鑒定

聚合物

• 純聚合物和混合聚合物識別

• 多層膜分析

• 聚合物表征：結晶度、密度、形態

• 判定單體含量、充填劑和添加劑

• 失效分析：雜質識別

涂層和表面

• 研究涂層和表面構成和均勻性

材料學

• 區分非晶硅和微晶硅

• 新型2D材料和碳納米管表征

法庭科學

• 鑒別取自犯罪現場的痕跡物證，譬如纖維、顆粒物、漆片等

• 藝術品真品鑒別

• 偽造文件、藥物和錢幣鑒別

• 違禁藥物分析

藝術和文化遺產

• 藝術作品材料識別

• 真假古董鑒別

• 藝術品保護、降質和老化研究

生命科學

• 細胞和組織分子結構研究