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  • 發布時間:2018-07-03 23:07 原文鏈接: STSVIS光譜儀

    超小體積可見光光譜分析儀

    不論是低濃度吸收光譜測量還是高強度激光特征鑒定,STS-VIS光譜儀都能為您提供需要的性能,其光譜范圍是350-800nm。 堅實牢固的設計和出色的臺間一致性使得STS成為設備集成或小體積應用的理想選擇。

    產品詳情                               

    • 緊湊小巧 -- 實際尺寸為40 x 42 x 24 mm

    • 功能強大 -- 非常高的信噪比(>1500:1)和動態范圍(4600:1)表現

    • 熱穩定性 -- 峰形能在一段很大的溫度范圍內保持穩定不變

    • 成本效益 -- 1.5nm的光學分辨率可以同臺式光譜儀相媲美

    • 可重現性 -- 為OEM廠商提供美觀的設計

    • 即插即用 — 輕松與其它設備連接和適配

     

    規格   

                                          

    工程規格                                       

    STS-VIS

    尺寸:                          

    40 mm x 42 mm x 24 mm

    重量:                 

    68 g

    探測器:

    ELIS1024

    波長范圍:

    350-800 nm

    積分時間:

    10 μs - 10 s

    動態范圍:

    5 x 109(系統,最長10秒積分時間);約4600單次采集

    信噪比:             

    >1500:1(最大信號)

    暗噪聲:

    ≤3 counts rms

    光柵:

    600 g/mm

    狹縫:

    10, 25, 50, 100或200 μm

    探測器聚焦透鏡:

    定制濾光片:

    光學分辨率:

    • 1.0 nm (10 μm狹縫)

    • 1.5 nm (25 μm狹縫)

    • 3.0 nm (50 μm狹縫)

    • 6.0 nm (100 μm狹縫)

    • 12.0 nm (200 μm狹縫)

    雜散光:

    ≤ 0.25% @ 590 nm

    光纖連接器:

    SMA 905                   

     


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