1. 摻雜劑與雜質的深度剖析
2. 薄膜的成份及雜質測定 （金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族）
3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析
4. 硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N
5. 工藝工具（離子植入）的高精度分析
2025年9月17日，一場承載著高端分析儀器自主化突破使命的盛會——雪迪龍飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）國產化項目啟動儀式，在雪迪龍北京研發生產基地隆重舉行。該項目的正式啟動，不僅標志著雪......
1991年成立的KoreTechnology，是國際飛行時間質譜儀領域的開拓者之一。自成立以來，Kore始終深耕飛行時間質譜儀領域，為全球高校、科研機構及工業用戶提供高端定制化解決方案。2015年，北......
想象一下，如果你的智能手表、運動手環甚至手機不再需要外接電源頻繁充電，而是通過吸收你身體散發的熱量來自行供電，會是一種什么體驗？近日，中國科學院化學研究所朱道本、狄重安團隊與多個國內外頂尖科研團隊合作......
分析測試百科網訊近日，吉林大學聚焦離子束電鏡光譜制樣聯用系統（JLU-ZC19100）招標采購項目評標工作已結束，功能擴展性要求投標產品可擴展安裝飛行二次質譜儀（TOF-SIMS）或拉曼光譜單元（需提......
分析測試百科網訊萊斯特大學的研究團隊最近解開了一塊3億年前的化石“塔利怪物”之謎，利用獨有的眼部表征技術，確定古老的“塔利怪物”為古代脊椎動物。被俗稱為“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利諾伊......