1、完整德拜環通過二維探測器一次性采集獲取，單角度一次入射就能夠使測量完成。
2、一次測量能夠獲得500個衍射點進行殘余應力數據擬合，可以得到更為精確的結果。
3、測角儀不需要，單角度一次入射就行，測量狹窄空間以及復雜形狀也變得相當容易。
4、不需要任何液體冷卻裝置，便攜電池供電支持。
5、區域應力測量功能具備，包括余奧氏體分析、材料織構分析以及晶粒均勻性分析等功能。
