X射線波譜儀的特點是分辨率高,通常為5—10eV,且可在室溫下工作,因此分析的精度高而檢測極限低。此外,根據布拉格定理2dsinθ=λ,采用晶面間距d大的分光晶體,可以分析標識X射線波長為λ的硼、碳、氮、氧等輕元素。但是X射線波譜儀也有其局限性,它的分光晶體接受X射線的立體角小,X射線的利用率低;此外,試樣要求象金相試樣那樣表面平正光潔,不能分析凸凹不平的試樣。