X射線能譜測量與模擬

1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作分為以下幾個部分：1)利用標準點源分別對高純鍺(HPGe)探測器與碲化鎘(CdTe)探測器進行能量刻度,得到能量刻度曲線。2)利用工業CT對能譜探測器內部結構進行掃描,得到能譜探測器內部結構的精確尺寸,并以此為基礎建立蒙特卡洛模型。利用蒙特卡洛模型計算HPGe探測器與CdTe探測器的本征探測效率,得到探測效率的模擬曲線,以此確定選用何種探測器作為能譜探測器。3)利用標準點源對HPGe探測器進行效率刻度,并計算出HPGe探測器的本征探測效率。將HPGe探測器實驗測得本征探測效率與模擬本征探測效率相比較,計算相對標準偏差測器模型的準確度。4)利用標定好的HPGe探測器構建能譜測量系統,測量鎢靶中能X射線治療水平規范下與重過濾規范下的脈沖高度能譜。5)利用高純鍺探測器測量鉬靶x射線能譜。利用蒙特卡洛方法模擬電子轟擊鉬靶以及鉬靶特征X射線的產生,將產生的鉬靶特征X射線譜寫入模擬探測器程序中得到新的模擬探測脈沖高度譜。比較模擬注量譜、模擬脈沖高度譜、實驗脈沖高度譜的不同。6)對論文所使用的實驗方法與實驗結果進行不確定度分析。