在X射線熒光分析中，隨著高度精密、穩定儀器的出現與發展，基體效應已成為元素定量測定中分析誤差的主要來源。所謂基體效應，全面說來，是指樣品的基本化學組成和物理-化學狀態的變化，對分析射線強度所造成的影響。樣品的基本化學組成，通常指包括分析元素在內的主量元素；樣品的物理-化學狀態，則應包括固體粉末的粒度、樣品表面的光潔度或粗糙度、樣品的均勻性以及元素在樣品中存在的化學態等。
